PIV技術(shù)原理
發(fā)布時(shí)間：2017-09-25 10:33:40點(diǎn)擊量：2565
在流場中均勻散播與需要測試流場相匹配（粒徑大小、粒徑比重等）的、反光性能良好的示蹤粒子，利用激光光源照亮所要測試的流場區(qū)域，CCD相機(jī)與激光面垂直，實(shí)時(shí)記錄粒子圖像幀序列，并根據(jù)圖像序列中兩幀之間的時(shí)間間隔，通過圖像的相關(guān)分析方法，計(jì)算可得出兩幀圖像上相應(yīng)粒子的位移大小和運(yùn)動(dòng)方向，從而獲得測量流場的瞬時(shí)速度矢量圖。
